Сканирующие микроскопы позволяют получать изображения поверхности материала с большим разрешением (меньше микрометра). Получаются трехмерные изображения, которые удобны в анализе структуры сканированных поверхностей. С помощью дополнительных методик (WDX, EDX) можно получать сведения о химическом составе приповерхностного слоя.
подробнее »Записи с меткой: микроскоп
Немецкие физики разработали новый просвечивающий ионный микроскоп с улучшенным алгоритмом получения информации об изображении. Это серьёзный вызов самым точным просвечивающим электронным микроскопам.
Оптическая микроскопия упирается в дифракционный предел: в такой микроскоп нельзя увидеть объекты, размер которых меньше, чем так называемый предел Аббе...
подробнее »
Комментарии